CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Tailoring and Characterisation of Nickel Silicide Thin Films on Silicon Carbide

Sergio Alfonso Pérez-García (Institutionen för material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik)
Göteborg : Chalmers University of Technology, 2005.
[Licentiatavhandling]

Nyckelord: characterisation, nickel silicide, thin films, silicon carbide



Denna post skapades 2006-09-12. Senast ändrad 2010-08-31.
CPL Pubid: 10961

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik (2005-2017)

Ämnesområden

Materialteknik

Chalmers infrastruktur

Examination

Datum: 2005-09-16
Tid:
Lokal:

Ingår i serie

Technical report - Department of Materials and Manufacturing Technology, Chalmers University of Technology 5