CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Correlation between microstructure, DC resistivity and magnetoresistance of SrRuO3 films

Khaled Khamchane (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik) ; Zdravko Ivanov (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik) ; Robert Gunnarsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik) ; Andrei Vorobiev (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Pär Rundqvist (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Spartak Gevorgian (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik)
Materials Research Society Symposium - Proceedings, Vol. 751 (2003), p. 67-71.
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2006-08-29. Senast ändrad 2014-09-02.
CPL Pubid: 10940