CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Comparison between quantitative metallography and modeling of sigma-phase particle growth in AISI 347 stainless steel

Jenny Erneman (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Martin Schwind ; Lars Nylöf ; Jan-Olof Nilsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys ; Extern) ; Hans-Olof Andrén (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; John Ågren
Metallurgical and Materials Transactions Vol. 36A (2005), 10, p. 2595-2600.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2006-08-25. Senast ändrad 2015-03-30.
CPL Pubid: 10598

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Konstruktionsmaterial

Chalmers infrastruktur