CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

SiAlON Microstructures

Lena K. L. Falk (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
Key Engineering Materials (1013-9826). Vol. 403 (2009), p. 265-268.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2009-12-15. Senast ändrad 2013-10-29.
CPL Pubid: 103568

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Materialteknik

Chalmers infrastruktur