CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Statistical Estimation of small signal FET model parameters and their covariance

Kristoffer Andersson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Christian Fager (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Peter Linnér (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Herbert Zirath (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik)
IEEE MTT-S International Microwave Symposium (2004)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2006-09-29. Senast ändrad 2015-12-17.
CPL Pubid: 10237

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Ämnesområden

Elektronik

Chalmers infrastruktur

Relaterade publikationer

Denna publikation ingår i:


Microwave power device characterization