CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

A general procedure for extraction of bias dependent dynamic self heating model parameters

Kristoffer Andersson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Christian Fager (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; J.C. Pedro
Microwave Symposium Digest, 2005 IEEE MTT-S International (01490-645X). p. 1159-1162. (2005)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2006-09-29. Senast ändrad 2015-12-17.
CPL Pubid: 10231

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Ämnesområden

Elektronik

Chalmers infrastruktur

Relaterade publikationer

Denna publikation ingår i:


Microwave power device characterization