CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Uncertainty estimation and optimal extraction of intrinsic FET small-signal model parameters

Christian Fager (Institutionen för mikroelektronik) ; Peter Linnér (Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap) ; J.C. Pedro
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Vol. 2 (2002), p. 729-32.
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2006-09-29. Senast ändrad 2015-12-17.
CPL Pubid: 10048

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroelektronik (1995-2003)
Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap (1900-2003)

Ämnesområden

Elektroteknik

Chalmers infrastruktur