CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Properties of ultra-thin NbN films for membrane-type THz HEB

B. Guillet ; O. Arthursson ; L. Mechin ; M. N. Metzner ; M. P. Chauvat ; P. Ruterana ; Vladimir Drakinskiy (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Sergey Cherednichenko (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; R. Lefevre ; Y. Delorme ; J. M. Krieg
JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS Vol. 151 (2007), 1-2, p. 570-574 .
[Konferensbidrag, refereegranskat]

Various buffer layers have been investigated in order to improve the crystalline quality of NbN ultra-thin films. The structural properties, the thickness, the surface morphology of 5-10 nm NbN films have been studied by different techniques. Uncertainty on thickness measurements in this range and the relation between NbN film quality and gain bandwidth are discussed in the framework of their use in Hot Electron Bolometers (HEB).

Nyckelord: NbN ultra-thin films, mixer devices

Denna post skapades 2009-10-20. Senast ändrad 2017-01-27.
CPL Pubid: 100389


Läs direkt!

Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik



Chalmers infrastruktur